摘要干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例在非序列场追迹技术的帮助下于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。建模任务由于组件倾斜引起的干涉条纹由于偏移倾斜引起的干涉条纹文件信息